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Packaging influences on the reliability of MEMS resonators.
J.J.M. Zaal, W.D. van Driel, S. Bendida, Q. Li, J.T.M. Van Beek, G.Q. Zhang
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Relevant metrics for evaluation of concurrent error detection schemes.
M.C.R. De Vasconcelos, D.T. Franco, J.-F. Naviner, L.A.B. Naviner
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