págs. 1168-1175
págs. 1176-1184
págs. 1185-1188
págs. 1189-1192
págs. 1193-1196
MTR-Fill: A Simulated Annealing-Based X-Filling Technique to Reduce Test Power Dissipation for Scan-Based Designs
págs. 1197-1200
págs. 1201-1205
págs. 1206-1210
págs. 1211-1214
págs. 1215-1217
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados