Properties of the Weibull cumulative exposure model
Yoshio Komori
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Reliability functions of generalized log-normal model
R C Gupta, S Lvin
págs. 695-698
Architecture-based software reliability modeling
Wen-Li Wang, D ai Pan, Mei-Hwa Chen
págs. 699-700
JOURNAL CONTENTS
págs. 701-705
BOOK CONTENTS
págs. 706-708
SUBJECT INDEX
págs. 709-712
AUTHOR INDEX
págs. 713-715
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