págs. 779-794
págs. 795-803
págs. 804-818
págs. 819-832
págs. 833-850
Characterization of a 3D defect using the expected improvement algorithm
Sándor Bilicz, Emmanuel Vazquez, Marc Lambert, Szabolcs Gyimothy, József Pávó
págs. 851-864
págs. 865-878
págs. 879-891
Adaptive monotonicity method for permittivity imaging
C. Wallinger, Daniel Watzenig, Gerald Steiner, B. Brandstatter
págs. 892-906
págs. 907-921
págs. 922-934
págs. 935-947
págs. 948-963
págs. 964-973
págs. 974-988
págs. 989-1004
págs. 1005-1019
págs. 1020-1032
págs. 1033-1043
págs. 1044-1058
págs. 1059-1067
págs. 1068-1080
págs. 1081-1090
Extraction of circuit parameters from PCB by FDTD and SIBC
Karl Hollaus, Oszkár Bíró, Gernot Matzenauer, Bernhard Weiß, Peter Caldera
págs. 1091-1101
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