págs. 1-8
Characterization of MIS structures and thin film transistors using RF-sputtered HfO2/HIZO layers
I. Hernandez, C.A. Pons-Flores, I. Garduño, J. Tinoco, I. Mejia, M. Estrada
págs. 9-13
Non-homogenous gamma process: Application to SiC MOSFET threshold voltage instability
Thomas Santini, Sebastien Morand, Mitra Fouladirad, Florent Miller, Antoine Grall, Bruno Allard
págs. 14-19
Yan Zeng, Xiaojin Li, YanLing Wang, Yabin Sun, Yanling Shi, Ao Guo, ShaoJian Hu, Shoumian Chen, Yuhang Zhao
págs. 20-26
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Plastic analysis for through silicon via with actual etching defect of triangular-teeth and scallops
Yunna Sun, Dongwoo Kang, Yazhou Zhang, Jiangbo Luo, Yanmei Liu, Yan Wang, Guofu Ding
págs. 43-52
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págs. 110-120
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Simulation study on thermo-fatigue failure behavior of solder joints in package-on-package structure
Zhi-Hao Zhang, Xi-Shu Wang, Huai-Hui Ren, Su Jia, Hui-Hui Yang
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Radiation induced transconductance overshoot in the 130 nm partially-depleted SOI MOSFETs
Chao Peng, Yunfei En, Zhengxuan Zhang, Yuan Liu, Zhifeng Lei
págs. 135-141
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Modeling nonlinear moisture diffusion in inhomogeneous media
Liangbiao Chen, Jiang Zhou, Hsing-wei Chu, Guoqi Zhang, Xuejun Fan
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págs. 171-177
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págs. 239-252
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