págs. 517-526
págs. 527-551
págs. 554-570
El Método de Rietveld: análisis estructural en difracción por muestras policristalinas
págs. 571-609
págs. 610-613
págs. 615-625
El análisis de perfil en difractometría de polvo: utilidad y limitaciones
págs. 627-641
págs. 643-649
págs. 651-654
La difracción de rayos X en la cristalización de vidrios metálicos
Clara Francisca Conde Amiano, Millán Millán Muñoz, H. Miranda, Ángel Javier Justo Erbez, A. Conde
págs. 655-659
págs. 661-667
págs. 669-672
págs. 673-676
págs. 677-681
págs. 683-688
págs. 689-693
págs. 694-697
págs. 701-709
X-ray Diffraction Study of Poly-p-Phenylene doped with SbF5 and SbCI5
D. R. Rueda, María Esperanza Cagiao Escohotado, Francisco José Baltá Calleja
págs. 710-715
págs. 717-724
José María Amigó Descarrega, Luis E. Ochando Gómez, María Mercedes Reventós, A. Sancho, Teófilo Sanfeliu Montolío, Lucía Soto
págs. 725-736
Los grupos cristalográficos de simetría «incompletos»: grupos «en capas» y «en columna»
págs. 737-748
págs. 749-759
págs. 762-770
págs. 771-785
Estudio mediante DRX de la dinámica mineral en los procesos cerámicos
Teófilo Sanfeliu Montolío, Ignasi Queralt Mitjans, S. Martínez, C. De la Fuente
págs. 787-796
Estudio cristaloquímico de pigmentos cerámicos
M.A. Tena, Juan Bautista Carda Castelló, Guillermo Monrós Tomás, Purificación Escribano López, Teófilo Sanfeliu Montolío, Juan José Alarcón Cabañero
págs. 797-805
págs. 807-809
Posibles ubicaciones atómicas en las sub-redes de Al y Mn en la fase icosaédrica perturbada Al4 Mn
Rafael Villar Montero, M. Martínez, G. Pastor, I. Jiménez, M. Torres
págs. 811-812
págs. 814-815
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