Operational experience and performance of the CDFII silicon detector
Christopher S. Hill
págs. 1-6
The BaBar Silicon Vertex Tracker: performance and radiation damage studies
V. Re, D. Hale, S. Kyre, M. Bruinsma, D. Callahan, J. Richman, A.M. Eisner, B. Dahmes, O. Long, W. Verkerke, D. Kirkby, J. Berryhill, S. Burke, P. Hart, S. Levy, J. Beringer, M. Mazur, J. Stoner, T. Beck, C. Campagnari
págs. 7-11
págs. 12-16
págs. 17-22
págs. 23-27
págs. 28-32
págs. 33-37
págs. 38-43
End-cap modules for the ATLAS SCT
Richard Nisius
págs. 44-49
Test beam analysis of the effect of highly ionizing particles on the CMS Silicon Strip Tracker
N. De Filippis
págs. 50-53
págs. 54-58
Test and quality control of double-sided silicon microstrip sensors for the ALICE experiment
I. Rachevskaia, L. Bosisio, O. Starodubtsev, S. Potin
págs. 59-64
págs. 65-70
Tests of silicon sensors for the CMS pixel detector
T. Rohe, D. Bortoletto, V. Chiochia, S. Cucciarelli, C. Regenfus, L. Cremaldi, K. Prokofiev, T. Speer, C. Amsler, S. Son, A. Dorokhov, M. Konecki, D. Sanders, M. Swartz
págs. 71-76
Progress in the ALICE silicon pixel detector
G. Stefanini
págs. 77-81
Silicon detectors and electronics for pixel hybrid photon detectors
M. Castro Carballo, S. Jolly, M. Campbell, C. Newby, L. Somerville, G. Aglieri Rinella, M. Moritz, K. Wyllie, T. Gys, D. Piedigrossi
págs. 82-86
J. Kownacki, A. Syntfeld, E. Piasecki, D. Lipi¿ski, A. Brzozowski, A. Jakubowski, A.J. Kordyasz, A. Pietrzak, R. Pozorek, E. Nossarzewska-Orlowska, M. Kowalczyk, L. ¿widerski, L. Reissig, R. G&acedil;siorowski
págs. 87-91
Enzo Gandolfi, Samuele Antinori, Davide Falchieri, Alessandro Gabrielli
págs. 92-97
F. Forti, M.A. Giorgi, G. Marchiori, D.J. Han, C. Angelini, M.G. Bisogni, M. Bondioli, P. Gregori, G.F. Dalla Betta, S. Bettarini, L. Bosisio, G. Calderini, M. Manghisoni, F. Bucci, M. Carpinelli, S. Dittongo, G. Batignani, Maurizio Boscardin, M. Ciacchi, P.F. Manfredi
págs. 98-104
págs. 105-109
Radiation hardness of different silicon materials after high-energy electron irradiation
S. Dittongo, M. Ciacchi, G. Lindström, D. Contarato, G. D'Auria, E. Fretwurst, L. Bosisio
págs. 110-116
K. Lassila-Perini, P. Mehtälä, P. Laitinen, P. Luukka, E. Tuominen, S. Nummela, D. Ungaro, E. Tuovinen, J. Nysten, I. Riihimäki, A. Zibellini, A. Virtanen, F. Hartmann, A. Furgeri, J. Härkönen
págs. 117-121
M. de Palma, L. Fiore, N. Manna, V. Radicci, D. Giordano, Piergiulio Tempesta, D. Creanza, S. My
págs. 122-127
S. My, L. Fiore, Piergiulio Tempesta, D. Creanza, D. Giordano, V. Radicci, N. Manna, M. de Palma
págs. 128-133
Fabrication of PIN diode detectors on thinned silicon wafers
Vittorio Guarnieri, Gian-Franco Dalla Betta, Sabina Ronchin, Nicola Zorzi, Maurizio Boscardin, Paolo Gregori, Claudio Piemonte
págs. 134-138
Influence of deep levels on space charge density at different temperatures in ¿-irradiated silicon
Z. Li, S. Miglio, M. Bruzzi, I. Pintilie, M. Scaringella, E. Fretwurst, D. Menichelli
págs. 139-145
A study of charge collection processes on polycrystalline diamond detectors
S. Sciortino, E. Borchi, M. Bruzzi, R. D'Alessandro, S. Mersi, S. Lagomarsino
págs. 146-151
págs. 152-157
Aldo Morselli
págs. 158-162
págs. 163-167
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados