Optical properties of high-Al-content crack free Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N (x<0.67) films grown on Si(111) by molecular-beam epitaxy
- Autores: M. Leroux, F. Natali, D. Byrne, J. Massies, F. Semond
- Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 132, Nº. 10, 2004, págs. 679-682
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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