ACCURATE CHARACTERIZATION OFMEM INDUCTORS ON LOSSY SILICON

• Autores: S.-N. Lee, Y. H. Lee, J.-G. Yook
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 43, Nº. 4, 2004, págs. 355-357
• Idioma: inglés
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