Microwave characterization of (Pb,La)TiO<sub>3</sub> thin films integrated on ZrO<sub>2</sub>/SiO<sub>2</sub>/Si wafers by sol-gel techniques
- Autores: Z. T. Song, Y. Wang, S.L. Feng, C. L. Choy, H.L.W. Chan
- Localización: Applied physics letters, ISSN 0003-6951, Vol. 85, Nº. 20, 2004, págs. 4696-4698
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
¿Es nuevo? Regístrese
Ventajas de registrarse
