XRF and SIMS/SNMS analyses of Ba<sub>x</sub>Sr<sub>1-x</sub>TiO<sub>3</sub> dielectrics
- Autores: F. Fitsilis, U. Breuer, W. Krumpen
- Localización: Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 375, Nº 7, 2003, págs. 906-911
- Idioma: alemán
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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