Metal-Assisted Secondary Ion Mass Spectrometry: Influence of Ag and Au Deposition on Molecular Ion Yields

• Autores: F. Vangaever, L. Adnaensen, R. Gijbels
• Localización: Analytical chemistry, ISSN 0003-2700, Nº. 22, 2004, págs. 6777-6785
• Idioma: inglés
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