Accumulator-based built-in self-test generator for robustly detectable sequential fault testing

• Autores: D. Gizopoulos, N. Kranitis, I. Voyiatzis
• Localización: IEE Proceedings: Computers and digital techniques, ISSN 1350-2387, Vol. 151, Nº 6, 2004, págs. 466-472
• Idioma: inglés
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