Imaging of all Dangling Bonds and their Potential on the Ge/Si(105) Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy

• Autores: Y. Fujikawa, T. Eguchi
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 93, Nº. 26, 2004, pág. 266102
• Idioma: inglés
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