Analysis and simulation of diffractive imaging field in thick film photoresist by using angular spectrum theory

• Autores: Gao Feng, Gao Fuhua, Tang Xionggui, Liu Shijie, Guo Yongkang, Du Jinglei
• Localización: Optics communications, ISSN 0030-4018, Vol. 244, Nº. 1, 2005, págs. 123-130
• Idioma: inglés
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