Uncertainty analysis of displacements measured by in-plane electronic speckle-pattern interferometry with spherical wave fronts

• Autores: R. Cordero, J. A. Rayas, A. Martinez
• Localización: Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 7, 2005, págs. 1141-1149
• Idioma: inglés
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