Detection of Single-Electron Charging in an Individual InAs Quantum Dot by Noncontact Atomic-Force Microscopy

• Autores: Y. Miyahara, R. Stomp
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 94, Nº. 5, 2005, pág. 56802
• Idioma: inglés
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