A Comparison of Shielded and Conventional On-Wafer Test-Fixture Forward Coupling on Silicon-On-Insulator (SOI) Substrate

• Autores: E. O. Ristolainen, T. Kaija
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 45, Nº. 1, 2005, págs. 70-75
• Idioma: inglés
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