On Using Exponential-Golomb Codes and Subexponential Codes for System-on-a-Chip Test Data Compression

• Autores: L. Li, Krishnendu Chakrabarty
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 6, 2004, págs. 667-670
• Idioma: inglés
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