A Signature Analysis Technique for the Identification of Failing Vectors with Application to Scan-BIST*

• Autores: M. Goessel, Krishnendu Chakrabarty
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 6, 2004, págs. 611-622
• Idioma: inglés
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