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Microstructure in shear band observed by microfocus X-ray computed tomography
Autores:
M. Takahashi, M. Oda, T. Takemura
Localización:
Geotechnique
,
ISSN
0016-8505,
Vol. 55, Nº 4, 2005
,
págs.
333-335
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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