Scanning near-field optical microscopy as a tool for the characterization of multimode interference devices

• Autores: T. Benyattou, R. Orobtchouk, Matthieu J. Martin
• Localización: Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 13, 2005, págs. 2558-2563
• Idioma: inglés
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