The Mask Detection Technology for Occluded Face Analysis in the Surveillance System

• Autores: S. H. Chiu, C.-Y. Wen, Y.-R. Tseng
• Localización: Journal of forensic sciences, ISSN-e 1556-4029, ISSN 0022-1198, Vol. 50, Nº. 3, 2005, págs. 593-601
• Idioma: inglés
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