Hard X-ray photoelectron spectroscopy from 5¿14.5keV

• Autores: C. Kunz, J. Zegenhagen, S. Thiess, M. Renier, T.-L. Lee, B.C.C. Cowie
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 132, Nº. 9, 2004, págs. 589-594
• Idioma: inglés
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