Formation of defect structures in Au-polysilane interfaces probed by low energy positron beams

• Autores: Yoshihide Hond, Mutsumi Tashiro, Seiichi Tagawa, Shu Seki, Yoshitake Terashima
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 132, Nº. 9, 2004, págs. 641-645
• Idioma: inglés
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