Characteristics of low-temperature-grown GaN films on Si(111)

• Autores: P.C. Colter, K. Ibrahim, W. Halverson, M.E. Kordesch, Z. Hassan, Y.C. Lee, F.K. Yam
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 133, Nº. 5, 2005, págs. 283-287
• Idioma: inglés
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