Measurement of the Free-Energy Dependence of Interfacial Charge-Transfer Rate Constants using ZnO/H₂O Semiconductor/Liquid Contacts

• Autores: Florian Gstrein, Thomas W. Hamann, Nathan S. Lewis, Bruce S. Brunschwig
• Localización: Journal of the American Chemical Society: JACS, ISSN 0002-7863, Vol. 127, Nº. 21, 2005, págs. 7815-7824
• Idioma: inglés
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