Test de señales de datos serie

• Autores: Michael Lauterbach, Michael Schnecker
• Localización: Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 606, 2005, págs. 60-63
• Idioma: español
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• Resumen

  • En los últimos años ha aparecido una gran variedad de protocolos de datos de alta velocidad para reemplazar los existentes, de buses paralelos de menor velocidad. Los nuevos estándares incluyen RapidIO, Serial ATA, XAUI, PCI-Express, FibreChannel alta velocidad entre otros. Muchos de estos han copiado los métodos de test y las especificaciones de estándares de datos serie anteriores utilizados por las operadoras para aplicaciones de telecomunicaciones - estándares como OC-12 y OC-48. Pero ahora, la transmisión de datos puede ser de chip a chip, o entre dos dispositivos cercanos más que entre dos ciudades. Estos caminos tan cortos facilitan el envío de datos a alta velocidad, pero a su vez, estas velocidades obligan al ingeniero de diseño a comprobar con mucha precisión que el diseño cumple perfectamente todas las especificaciones del estándar