Spectroscopy of excitons and shallow impurities in isotopically enriched silicon¿electronic properties beyond the virtual crystal approximation

• Autores: M.L.W. Thewalt
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 133, Nº. 11, 2005, págs. 715-725
• Idioma: inglés
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