On robustness of edge-based FE analysis using algebraic multigrid method

• Autores: H. Igarashi, K. Watanabe
• Localización: Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 24, Nº 2, 2005, págs. 408-417
• Idioma: inglés
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