Soft X-ray microscopy at a spatial resolution better than 15 nm

• Autores: David Attwood, Bruce D. Harteneck, Erik H. Anderson, Weilun Chao, J. Alexander Liddle
• Localización: Nature: International weekly journal of science, ISSN 0028-0836, Vol. 435, Nº 7046, 2005, págs. 1210-1213
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)