Probing charge transport at the single-molecule level on silicon by using cryogenic ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy

• Autores: Nathan P. Guisinger, Nathan L. Yoder, Mark C. Hersam
• Localización: Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, ISSN 0027-8424, Nº. 25, 2005, págs. 8838-8843
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)