High-resolution flash time-to-digital conversion and calibration for system-on-chip testing

• Autores: P. M. Levine, G. W. Roberts
• Localización: IEE Proceedings: Computers and digital techniques, ISSN 1350-2387, Vol. 152, Nº 3, 2005, págs. 415-426
• Idioma: inglés
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