Electron-beam-induced current study of small-angle grain boundaries in multicrystalline silicon

• Autores: T. Chikyo, D. Yang, P. Ahmet, R. Xie, S. Ito, J. Chen, T. Sekiguchi, F. Yin
• Localización: Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 52, Nº. 12, 2005, págs. 1211-1215
• Idioma: inglés
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