Stress analysis of ZrO~2/SiO~2 multilayers deposited on different substrates with different thickness periods

• Autores: S. Shao, J. Shao
• Localización: Optics letters: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0146-9592, Nº. 16, 2005, págs. 2119-2121
• Idioma: inglés
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