Intra- versus inter-site electronic excitations in NdNiO₃ by resonant inelastic ultra-soft X-ray scattering at Ni 3p edge

• Autores: J.A. Alonso, C. Såthe, A. Agui, J. Nordgren, S.M. Butorin, F. Saalem
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 135, Nº. 11, 2005, págs. 716-720
• Idioma: inglés
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