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Minimum thickness control at various levels for topology optimization using the wavelet method
Autores:
Seok Heo
, Yoon Young Kim,
Gil Ho Yoon
Localización:
International journal of solids and structures
,
ISSN
0020-7683,
Vol. 42, Nº 23, 2005
,
págs.
5945-5970
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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