A Switch from High-Fidelity to Error-Prone DNA Double-Strand Break Repair Underlies Stress-Induced Mutation

• Autores: Natalie C. Fonville, Rebecca G. Ponder, Susan M. Rosenberg
• Localización: Molecular cell, ISSN 1097-2765, Vol. 19, Nº. 6, 2005, págs. 791-804
• Idioma: inglés
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