Quantitative analysis of the Ge concentration in a SiGe quantum well: comparison of low-energy RBS and SIMS measurements

• Autores: D. Krecar, M. Rosner, H Hutter, M. Draxler, P. Bauer
• Localización: Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 384, Nº 2, 2006, págs. 525-530
• Idioma: alemán
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