Reduced dielectric loss and leakage current in CaCu<sub>3</sub>Ti<sub>4</sub>O<sub>12</sub>/SiO<sub>2</sub>/CaCu<sub>3</sub>Ti<sub>4</sub>O<sub>12</sub> multilayered films
- Autores: Liang Fang, Mingrong Shen, Jing Yang, Zhenya Li
- Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 137, Nº. 7, 2006, págs. 381-386
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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