Polarization Dependence of L- and M-Edge Resonant Inelastic X-Ray Scattering in Transition-Metal Compounds

• Autores: M. van Veenendaal
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 96, Nº. 11, 2006, pág. 117404
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)