Comment on "Destructive Effect of Disorder and Bias Voltage on Interface Resonance Transmission in Symmetric Tunnel Junctions"

• Autores: K. D. Belashchenko, J. P. Velev
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 96, Nº. 11, 2006, pág. 119601
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)