Excess coincidences of reflected and refracted x rays from a synchrotron-radiation beamline (8 pages)

• Autores: T. Ishikawa, M. Yabashi, E. Ikonen
• Localización: Physical review A: atomic, molecular and optical physics, ISSN 1050-2947, Vol. 74, Nº. 1, 2006, pág. 13816
• Idioma: inglés
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