A study of the intrinsic defects in LiY F<sub>4</sub> with extended-ion method
- Autores: L.F. Chen, Q.F. Li
- Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 140, Nº. 3, 2006, págs. 107-111
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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