Resumen de Análisis avanzado de componentes electrónicos y conexiones utilizando tecnología microfocus de rayos X
Este artículo trata las necesidades de unas buenas prestaciones en sistemas de inspección con Rayos X que conduzcan a pruebas repetibles y con un flujo rápido de la información requerida. Las necesidades de tener información avanzada de laboratorio, así como en la línea de producción, son tratadas con ejemplos t requerimientos del sistemas. También se van a tratar las necesidades de comunicación global de esta información, desde el diseño, a la implementación y a la producción en línea
