X-ray Diffraction Area Mapping of Preferred Orientation and Phase Change in TiO₂ Thin Films Deposited by Chemical Vapor Deposition

• Autores: Mark Green, Geoffrey Hyett, Ivan P. Parkin
• Localización: Journal of the American Chemical Society: JACS, ISSN 0002-7863, Vol. 128, Nº. 37, 2006, págs. 12147-12155
• Idioma: inglés
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