IOC-LP: hybrid test data compression/decompression scheme for low power testing

• Autores: S. Kang, Y. Kim, S. Chun, M. H. Yang
• Localización: IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 153, Nº 4, 2006, págs. 391-398
• Idioma: inglés
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