Measurement of Excited States in ^4^0Si and Evidence for Weakening of the N = 28 Shell Gap

• Autores: C. M. Campbell
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 97, Nº. 11, 2006, págs. 112501-113000
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)