Atomic force microscope cantilever calibration device for quantified force metrology at micro- or nano-scale regime: the nano force calibrator (NFC)

• Autores: Y.-K. Park, M.-S. Kim, J.-H. Choi
• Localización: Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 43, Nº 5, 2006, págs. 389-395
• Idioma: francés
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