Probing pairing symmetry of Sm<sub>1.85</sub>Ce<sub>0.15</sub>CuO<sub>4</sub> via highly-sensitive voltage measurements: Evidence for strong impurity scattering
- Autores: A.J.C. Lanfredi, F.M. Araujo-Moreira, S. Sergeenkov
- Localización: Physics letters, Section A, ISSN 0375-9601, Vol. 359, Nº. 6, 2006, págs. 696-699
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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